產品詳情
奧林巴斯IXplore SpinSR是一款專為快速三維超分辨成像及動態樣品長時間觀察設計的高端顯微鏡系統。該系統集成了轉盤共聚焦技術和獨有的超高分辨率技術（OSR），旨在滿足復雜結構和動態實驗中的高要求成像需求，無需特殊標記即可實現XY分辨率低至120nm，適用于各種精密結構的研究。
IXplore SpinSR結合了先進的轉盤共聚焦技術和奧林巴斯超高分辨率技術，使其能夠捕捉到精細結構。例如，這一技術可以清晰地展現材料表面的微細紋理、復合結構中的微觀分布等細節，極大提升了對精密構造的理解，包括納米級孔隙、晶體排列以及微觀機械部件內部構造等方面的研究。
動態觀測的新時代
在進行動態樣品觀察時，IXplore SpinSR以其快速且干擾小的成像特性，支持長時間監控。通過將轉盤共聚焦高速采集與快速超高分辨率處理相結合，用戶能夠在短時間內獲取高質量圖像，非常適合用于需要連續追蹤的動態過程，如材料形變分析、粒子運動研究或微流控系統中的流動行為監測等，從而更深入地理解復雜系統的運行機制。
多樣化成像模式
IXplore SpinSR提供了寬場、共聚焦和超高分辨三種成像模式，可根據具體需求自由切換。不論是淺層結構還是深層細節的觀察，該系統都能提供卓越的圖像質量。此外，與高性能物鏡配合使用，可進一步提升三維成像的深度和對比度，讓用戶能夠從整體到局部全面掌握樣品的微觀信息。
圖像質量的優化
為了提升圖像質量，IXplore SpinSR采用了奧林巴斯TruSight反卷積算法，有效減少了圖像模糊現象，增強了圖像的清晰度和銳利度。同時，系統支持多色成像而不需要特殊的染料或標記，簡化了操作流程，提高了成像效率。
用戶友好型設計
IXplore SpinSR的設計充分考慮到了用戶的體驗，界面直觀易懂，操作簡便，即使是初次使用者也能迅速上手。其靈活性和強大的功能使其成為現代科研和工業檢測領域的重要工具，在材料科學、電子器件分析、半導體檢測等多個方向得到了廣泛應用。
奧林巴斯IXplore SpinSR超分辨成像系統憑借其出色的技術性
產品鏈接：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/mic能、多樣化的成像模式以及人性化的設計，開啟了高精度成像的新篇章，助力全球研究人員在多個學科領域取得更多突破性的成果。
奧林巴斯顯微鏡：https://industrial.evidentscientific.com.cnroscopes/inverted/ixplore-spinsr/
